TY  - RPRT
TI  - Vertical GaN Devices: Process and Reliability
AU  - Shuzhen You
AU  - Karen Geens
AU  - Matteo Borga
AU  - Hu Liang
AU  - Herwig Hahn
AU  - Dirk Fahle
AU  - Michael Heuken
AU  - Kalparupa Mukherjee
AU  - Carlo De Santi
AU  - Matteo Meneghini
AU  - Enrico Zanoni
AU  - Martin Berg
AU  - Peter Ramvall
AU  - Ashutosh Kumar
AU  - Mikael T. Björk
AU  - B. Jonas Ohlsson
AU  - Stefaan Decoutere
PY  - 2021
DO  - 10.1016/j.microrel.2021.114218
UR  - https://arxiv.org/abs/2107.02469
ID  - 2107.02469
ER  -