TY  - RPRT
TI  - OFF-state trapping phenomena in GaN HEMTs: interplay between gate trapping, acceptor ionization and positive charge redistribution
AU  - E. Canato
AU  - M. Meneghini
AU  - C. De Santi
AU  - F. Masin
AU  - A. Stockman
AU  - P. Moens
AU  - E. Zanoni
AU  - G. Meneghesso
PY  - 2021
DO  - 10.1016/j.microrel.2020.113841
UR  - https://arxiv.org/abs/2107.05934
ID  - 2107.05934
ER  -