TY  - RPRT
TI  - Short Term Reliability and Robustness of ultra-thin barrier, 110 nm-gate AlN/GaN HEMTs
AU  - Zhan Gao
AU  - Matteo Meneghini
AU  - Kathia Harrouche
AU  - Riad Kabouche
AU  - Francesca Chiocchetta
AU  - Daniele Marcon
AU  - Etienne Okada
AU  - Fabiana Rampazzo
AU  - Carlo De Santi
AU  - Farid Medjdoub
AU  - Gaudenzio Meneghesso
AU  - Enrico Zanoni
PY  - 2021
DO  - 10.1016/j.microrel.2021.114199
UR  - https://arxiv.org/abs/2107.08410
ID  - 2107.08410
ER  -