TY  - RPRT
TI  - Degradation mechanism of 0.15 um AlGaN/GaN HEMTs: effects of hot electrons
AU  - Z. Gao
AU  - F. Rampazzo
AU  - M. Meneghini
AU  - C. De Santi
AU  - F. Chiocchetta
AU  - D. Marcon
AU  - G. Meneghesso
AU  - E. Zanoni
PY  - 2021
DO  - 10.1016/j.microrel.2020.113905
UR  - https://arxiv.org/abs/2107.08413
ID  - 2107.08413
ER  -