TY  - RPRT
TI  - X-ray diffraction tools for structural modeling of epitaxic films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator
AU  - Rafaela F. S. Penacchio
AU  - Celso I. Fornari
AU  - Yori G. Camillo
AU  - Philipp Kagerer
AU  - Sebastian Buchberger
AU  - Martin Kamp
AU  - Hendrik Bentmann
AU  - Friedrich Reinert
AU  - Sergio L. Morelhao
PY  - 2021
UR  - https://arxiv.org/abs/2107.12280
ID  - 2107.12280
ER  -