TY  - RPRT
TI  - Predicting Patch Correctness Based on the Similarity of Failing Test Cases
AU  - Haoye Tian
AU  - Yinghua Li
AU  - Weiguo Pian
AU  - Abdoul Kader Kaboré
AU  - Kui Liu
AU  - Andrew Habib
AU  - Jacques Klein
AU  - Tegawendé F. Bissyande
PY  - 2022
UR  - https://arxiv.org/abs/2107.13296
ID  - 2107.13296
ER  -