TY  - RPRT
TI  - Revisiting the Reduction of Thermal Conductivity in Nano- to Micro-Grained Bismuth Telluride: The Importance of Grain-Boundary Thermal Resistance
AU  - Sien Wang
AU  - Xiaowei Lu
AU  - Ankit Negi
AU  - Jixiong He
AU  - Kyunghoon Kim
AU  - Hezhu Shao
AU  - Peng Jiang
AU  - Jun Liu
AU  - Qing Hao
PY  - 2021
UR  - https://arxiv.org/abs/2108.05972
ID  - 2108.05972
ER  -