TY  - RPRT
TI  - Multi defect detection and analysis of electron microscopy images with deep learning
AU  - Mingren Shen
AU  - Guanzhao Li
AU  - Dongxia Wu
AU  - Yuhan Liu
AU  - Jacob Greaves
AU  - Wei Hao
AU  - Nathaniel J. Krakauer
AU  - Leah Krudy
AU  - Jacob Perez
AU  - Varun Sreenivasan
AU  - Bryan Sanchez
AU  - Oigimer Torres
AU  - Wei Li
AU  - Kevin Field
AU  - Dane Morgan
PY  - 2021
DO  - 10.1016/j.commatsci.2021.110576
UR  - https://arxiv.org/abs/2108.08883
ID  - 2108.08883
ER  -