TY  - RPRT
TI  - D retention and material defects probed using Raman microscopy in JET limiter samples and beryllium-based synthesized samples
AU  - C Pardanaud
AU  - M Kumar
AU  - P Roubin
AU  - C Martin
AU  - Y Ferro
AU  - J Denis
AU  - A Widdowson
AU  - D Douai
AU  - M Baldwin
AU  - A Založnik
AU  - C Lungu
AU  - C Porosnicu
AU  - P Dinca
AU  - T Dittmar
AU  - A Hakola
PY  - 2021
DO  - 10.1088/1402-4896/ac267b
UR  - https://arxiv.org/abs/2109.15077
ID  - 2109.15077
ER  -