TY  - RPRT
TI  - Multi-scale characterization of hexagonal Si-4H: a hierarchical nanostructured material
AU  - Silvia Pandolfi
AU  - Shiteng Zhao
AU  - John Turner
AU  - Peter Ercius
AU  - Chengyu Song
AU  - Rohan Dhall
AU  - Nicolas Menguy
AU  - Yann Le Godec
AU  - Alexandre Courac
AU  - Andrew M. Minor
AU  - Jon Eggert
AU  - Leora E. Dresselhaus-Marais
PY  - 2021
UR  - https://arxiv.org/abs/2110.02943
ID  - 2110.02943
ER  -