TY  - RPRT
TI  - Nanoscale Raman Characterization of a 2D Semiconductor Lateral Heterostructure Interface
AU  - Sourav Garg
AU  - J. Pierce Fix
AU  - Andrey V. Krayev
AU  - Connor Flanery
AU  - Michael Colgrove
AU  - Audrey R. Sulkanen
AU  - Minyuan Wang
AU  - Gang-Yu Liu
AU  - Nicholas J. Borys
AU  - Patrick Kung
PY  - 2021
UR  - https://arxiv.org/abs/2111.00135
ID  - 2111.00135
ER  -