TY  - RPRT
TI  - Wafer-level Variation Modeling for Multi-site RF IC Testing via Hierarchical Gaussian Process
AU  - Michihiro Shintani
AU  - Riaz-Ul-Haque Mian
AU  - Tomoki Nakamura
AU  - Masuo Kajiyama
AU  - Makoto Eiki
AU  - Michiko Inoue
PY  - 2021
UR  - https://arxiv.org/abs/2111.01369
ID  - 2111.01369
ER  -