TY  - RPRT
TI  - Degradation Mechanism of Perovskite under High Charge Carrier Density Condition
AU  - Guohui Li
AU  - Huihui Pi
AU  - Yanfu Wei
AU  - Bolin Zhou
AU  - Ya Gao
AU  - Rong Wen
AU  - Yuying Hao
AU  - Han Zhang
AU  - Beng S. Ong
AU  - Yanxia Cui
PY  - 2021
UR  - https://arxiv.org/abs/2112.08714
ID  - 2112.08714
ER  -