TY  - RPRT
TI  - Positive and negative charge trapping GaN HEMTs: interplay between thermal emission and transport-limited processes
AU  - A. Nardo
AU  - C. De Santi
AU  - C. Koller
AU  - C. Ostermaier
AU  - I. Daumiller
AU  - G. Meneghesso
AU  - E. Zanoni
AU  - M. Meneghini
PY  - 2021
DO  - 10.1016/j.microrel.2021.114255
UR  - https://arxiv.org/abs/2112.09513
ID  - 2112.09513
ER  -