TY  - RPRT
TI  - Comparing different solutions for testing resistive defects in low-power SRAMs
AU  - Nunzio Mirabella
AU  - Michelangelo Grosso
AU  - Giovanna Franchino
AU  - Salvatore Rinaudo
AU  - Ioannis Deretzis
AU  - Antonino La Magna
AU  - Matteo Sonza Reorda
PY  - 2021
UR  - https://arxiv.org/abs/2112.15176
ID  - 2112.15176
ER  -