TY  - RPRT
TI  - Scattering Loss in Precision Metrology due to Mirror Roughness
AU  - Yehonathan Drori
AU  - Johannes Eichholz
AU  - Tega Edo
AU  - Hiro Yamamoto
AU  - Yutaro Enomoto
AU  - Gautam Venugopalan
AU  - Koji Arai
AU  - Rana X Adhikari
PY  - 2022
DO  - 10.1364/josaa.455127
UR  - https://arxiv.org/abs/2201.05640
ID  - 2201.05640
ER  -