TY  - RPRT
TI  - Testing low-loss microstrip materials with MKIDs for microwave applications
AU  - J. Hood
AU  - P. Barry
AU  - T. Cecil
AU  - C. Chang
AU  - S. Meyer
AU  - J. Li
AU  - Z. Pan
AU  - E. Shirokoff
AU  - A. Tang
PY  - 2022
DO  - 10.1007/s10909-022-02881-y
UR  - https://arxiv.org/abs/2202.00115
ID  - 2202.00115
ER  -