TY  - RPRT
TI  - Enhancing sensitivity in atomic force microscopy for planar tip-on-chip probes
AU  - H. Tunç Çiftçi
AU  - Michael Verhage
AU  - Tamar Cromwijk
AU  - Laurent Pham Van
AU  - Bert Koopmans
AU  - Kees Flipse
AU  - Oleg Kurnosikov
PY  - 2022
DO  - 10.1038/s41378-022-00379-x
UR  - https://arxiv.org/abs/2202.00952
ID  - 2202.00952
ER  -