TY  - RPRT
TI  - Thickness and temperature dependence of the atomic-scale structure of SrRuO$_3$ thin films
AU  - Xuanyi Zhang
AU  - Aubrey N. Penn
AU  - Lena Wysocki
AU  - Zhan Zhang
AU  - Paul H. M. van Loosdrecht
AU  - Lior Kornblum
AU  - James M. LeBeau
AU  - Ionela Lindfors-Vrejoiu
AU  - Divine P. Kumah
PY  - 2022
DO  - 10.1063/5.0087791
UR  - https://arxiv.org/abs/2202.01652
ID  - 2202.01652
ER  -