TY  - RPRT
TI  - Wafer-scale low-disorder 2DEG in $^{28}$Si/SiGe without an epitaxial Si cap
AU  - Davide Degli Esposti
AU  - Brian Paquelet Wuetz
AU  - Viviana Fezzi
AU  - Mario Lodari
AU  - Amir Sammak
AU  - Giordano Scappucci
PY  - 2022
DO  - 10.1063/5.0088576
UR  - https://arxiv.org/abs/2202.08090
ID  - 2202.08090
ER  -