TY  - RPRT
TI  - Nanoscale mapping of the full strain tensor, rotation and composition in partially relaxed In$_x$Ga$_{1-x}$N layers by scanning X-ray diffraction microscopy
AU  - Carsten Richter
AU  - Vladimir M. Kaganer
AU  - Armelle Even
AU  - Amélie Dussaigne
AU  - Pierre Ferret
AU  - Frédéric Barbier
AU  - Yves-Matthieu Le Vaillant
AU  - Tobias U. Schülli
PY  - 2022
UR  - https://arxiv.org/abs/2203.14819
ID  - 2203.14819
ER  -