TY  - RPRT
TI  - Residue-based Label Protection Mechanisms in Vertical Logistic Regression
AU  - Juntao Tan
AU  - Lan Zhang
AU  - Yang Liu
AU  - Anran Li
AU  - Ye Wu
PY  - 2022
DO  - 10.1109/bigcom57025.2022.00051
UR  - https://arxiv.org/abs/2205.04166
ID  - 2205.04166
ER  -