TY  - RPRT
TI  - Nanomechanical Characterization of an Antiferromagnetic Topological Insulator
AU  - Shuwan Liu
AU  - Su Kong Chong
AU  - Dongwook Kim
AU  - Amit Vashist
AU  - Rohit Kumar
AU  - Seng Huat Lee
AU  - Kang L. Wang
AU  - Zhiqiang Mao
AU  - Feng Liu
AU  - Vikram V. Deshpande
PY  - 2022
UR  - https://arxiv.org/abs/2206.04786
ID  - 2206.04786
ER  -