TY  - RPRT
TI  - Variable-wavelength quick scanning nano-focused X-ray microscopy for in situ strain and tilt mapping
AU  - Marie-ingrid Richard
AU  - Thomas W Cornelius
AU  - Florian Lauraux
AU  - Jean-Baptiste Molin
AU  - Christoph Kirchlechner
AU  - Steven J Leake
AU  - Jérôme Carnis
AU  - Tobias U Schülli
AU  - Ludovic Thilly
AU  - Olivier Thomas
PY  - 2022
UR  - https://arxiv.org/abs/2206.13297
ID  - 2206.13297
ER  -