TY  - RPRT
TI  - High Thermal Conductivity in Wafer Scale Cubic Silicon Carbide Crystals
AU  - Zhe Cheng
AU  - Jianbo Liang
AU  - Keisuke Kawamura
AU  - Hidetoshi Asamura
AU  - Hiroki Uratani
AU  - Samuel Graham
AU  - Yutaka Ohno
AU  - Yasuyoshi Nagai
AU  - Naoteru Shigekawa
AU  - David G. Cahill
PY  - 2022
DO  - 10.1038/s41467-022-34943-w
UR  - https://arxiv.org/abs/2207.05292
ID  - 2207.05292
ER  -