TY  - RPRT
TI  - Atomistic characterization of the SiO2 high-density liquid/low-density liquid interface
AU  - Xin Zhang
AU  - Brian B. Laird
AU  - Hongtao Liang
AU  - Wenliang Lu
AU  - Zhiyong Yu
AU  - Xiangming Ma
AU  - Ya Cheng
AU  - Yang Yang
PY  - 2022
DO  - 10.1063/5.0107674
UR  - https://arxiv.org/abs/2208.00566
ID  - 2208.00566
ER  -