TY  - RPRT
TI  - Deep Open-Set Recognition for Silicon Wafer Production Monitoring
AU  - Luca Frittoli
AU  - Diego Carrera
AU  - Beatrice Rossi
AU  - Pasqualina Fragneto
AU  - Giacomo Boracchi
PY  - 2022
DO  - 10.1016/j.patcog.2021.108488
UR  - https://arxiv.org/abs/2208.14071
ID  - 2208.14071
ER  -