TY  - RPRT
TI  - Electronic Origin of High-Tc Maximization and Persistence in Trilayer Cuprate Superconductors
AU  - Xiangyu Luo
AU  - Hao Chen
AU  - Yinghao Li
AU  - Qiang Gao
AU  - Chaohui Yin
AU  - Hongtao Yan
AU  - Taimin Miao
AU  - Hailan Luo
AU  - Yingjie Shu
AU  - Yiwen Chen
AU  - Chengtian Lin
AU  - Shenjin Zhang
AU  - Zhimin Wang
AU  - Fengfeng Zhang
AU  - Feng Yang
AU  - Qinjun Peng
AU  - Guodong Liu
AU  - Lin Zhao
AU  - Zuyan Xu
AU  - Tao Xiang
AU  - X. J. Zhou
PY  - 2022
DO  - 10.1038/s41567-023-02206-0
UR  - https://arxiv.org/abs/2210.06348
ID  - 2210.06348
ER  -