TY  - RPRT
TI  - Threshold voltage instability by charge trapping effects in the gate region of p-GaN HEMTs
AU  - Giuseppe Greco
AU  - Patrick Fiorenza
AU  - Filippo Giannazzo
AU  - Corrado Bongiorno
AU  - Maurizio Moschetti
AU  - Cettina Bottari
AU  - Mario Santi Alessandrino
AU  - Ferdinando Iucolano
AU  - Fabrizio Roccaforte
PY  - 2023
DO  - 10.1063/5.0122097
UR  - https://arxiv.org/abs/2212.06442
ID  - 2212.06442
ER  -