TY  - RPRT
TI  - Comphy v3.0 -- A Compact-Physics Framework for Modeling Charge Trapping Related Reliability Phenomena in MOS Devices
AU  - Dominic Waldhoer
AU  - Christian Schleich
AU  - Jakob Michl
AU  - Alexander Grill
AU  - Dieter Claes
AU  - Alexander Karl
AU  - Theresia Knobloch
AU  - Gerhard Rzepa
AU  - Jacopo Franco
AU  - Ben Kaczer
AU  - Michael Waltl
AU  - Tibor Grasser
PY  - 2022
DO  - 10.1016/j.microrel.2023.115004
UR  - https://arxiv.org/abs/2212.11547
ID  - 2212.11547
ER  -