TY  - RPRT
TI  - Nanoimprint strain-engineering of 2D semiconductors
AU  - Jannis Bensmann
AU  - Robert Schmidt
AU  - Robert Schneider
AU  - Johannes Kern
AU  - Paul Steeger
AU  - Mohammad Adnan
AU  - Steffen Michaelis de Vasconcellos
AU  - Rudolf Bratschitsch
PY  - 2022
UR  - https://arxiv.org/abs/2212.11873
ID  - 2212.11873
ER  -