TY  - RPRT
TI  - Bismuth layer properties in the ultrathin Bi-FeNi multilayer films probed by spectroscopic ellipsometry
AU  - N. N. Kovaleva
AU  - D. Chvostova
AU  - O. Pacherova
AU  - A. V. Muratov
AU  - L. Fekete
AU  - I. A. Sherstnev
AU  - K. I. Kugel
AU  - F. A. Pudonin
AU  - A. Dejneka
PY  - 2023
DO  - 10.1063/5.0069691
UR  - https://arxiv.org/abs/2301.05103
ID  - 2301.05103
ER  -