TY  - RPRT
TI  - Role of a capping layer on the crystalline structure of Sn thin films grown at cryogenic temperatures on InSb substrates
AU  - A. -H. Chen
AU  - C. P. Dempsey
AU  - M. Pendharkar
AU  - A. Sharma
AU  - B. Zhang
AU  - S. Tan
AU  - L. Bellon
AU  - S. M. Frolov
AU  - C. J. Palmstrom
AU  - E. Bellet-Amalric
AU  - M. Hocevar
PY  - 2023
UR  - https://arxiv.org/abs/2301.12424
ID  - 2301.12424
ER  -