TY  - RPRT
TI  - Moiré Fringes in Conductive Atomic Force Microscopy
AU  - L. Richarz
AU  - J. He
AU  - U. Ludacka
AU  - E. Bourret
AU  - Z. Yan
AU  - A. T. J. van Helvoort
AU  - D. Meier
PY  - 2023
DO  - 10.1063/5.0145173
UR  - https://arxiv.org/abs/2302.01671
ID  - 2302.01671
ER  -