TY  - RPRT
TI  - Investigation of Cryogenic Current-Voltage Anomalies in SiGe HBTs: Role of Base-Emitter Junction Inhomogeneities
AU  - Nachiket R. Naik
AU  - Bekari Gabritchidze
AU  - Justin H. Chen
AU  - Jacob Kooi
AU  - Kieran A. Cleary
AU  - Austin J. Minnich
PY  - 2024
UR  - https://arxiv.org/abs/2302.14210
ID  - 2302.14210
ER  -