TY  - RPRT
TI  - Assessment of error variation in high-fidelity two-qubit gates in silicon
AU  - Tuomo Tanttu
AU  - Wee Han Lim
AU  - Jonathan Y. Huang
AU  - Nard Dumoulin Stuyck
AU  - Will Gilbert
AU  - Rocky Y. Su
AU  - MengKe Feng
AU  - Jesus D. Cifuentes
AU  - Amanda E. Seedhouse
AU  - Stefan K. Seritan
AU  - Corey I. Ostrove
AU  - Kenneth M. Rudinger
AU  - Ross C. C. Leon
AU  - Wister Huang
AU  - Christopher C. Escott
AU  - Kohei M. Itoh
AU  - Nikolay V. Abrosimov
AU  - Hans-Joachim Pohl
AU  - Michael L. W. Thewalt
AU  - Fay E. Hudson
AU  - Robin Blume-Kohout
AU  - Stephen D. Bartlett
AU  - Andrea Morello
AU  - Arne Laucht
AU  - Chih Hwan Yang
AU  - Andre Saraiva
AU  - Andrew S. Dzurak
PY  - 2024
DO  - 10.1038/s41567-024-02614-w
UR  - https://arxiv.org/abs/2303.04090
ID  - 2303.04090
ER  -