TY  - RPRT
TI  - Finite temperature effects on the structural stability of Si-doped HfO$_{2}$ using first-principles calculations
AU  - Yosuke Harashima
AU  - Hiroaki Koga
AU  - Zeyuan Ni
AU  - Takehiro Yonehara
AU  - Michio Katouda
AU  - Akira Notake
AU  - Hidefumi Matsui
AU  - Tsuyoshi Moriya
AU  - Mrinal Kanti Si
AU  - Ryu Hasunuma
AU  - Akira Uedono
AU  - Yasuteru Shigeta
PY  - 2023
DO  - 10.1063/5.0153188
UR  - https://arxiv.org/abs/2303.14891
ID  - 2303.14891
ER  -