TY  - RPRT
TI  - Physics-based bias-dependent compact modeling of 1/f noise in single- to few- layer 2D-FETs
AU  - Nikolaos Mavredakis
AU  - Anibal Pacheco-Sanchez
AU  - Md Hasibul Alam
AU  - Anton Guimerà-Brunet
AU  - Javier Martinez
AU  - Jose Antonio Garrido
AU  - Deji Akinwande
AU  - David Jiménez
PY  - 2023
DO  - 10.1039/d3nr00922j
UR  - https://arxiv.org/abs/2303.17162
ID  - 2303.17162
ER  -