TY  - RPRT
TI  - Lattice deformation at the sub-micron scale: X-ray nanobeam measurements of elastic strain in electron shuttling devices
AU  - C. Corley-Wiciak
AU  - M. H. Zoellner
AU  - I. Zaitsev
AU  - K. Anand
AU  - E. Zatterin
AU  - Y. Yamamoto
AU  - A. A. Corley-Wiciak
AU  - F. Reichmann
AU  - W. Langheinrich
AU  - L. R. Schreiber
AU  - C. L. Manganelli
AU  - M. Virgilio
AU  - C. Richter
AU  - G. Capellini
PY  - 2023
DO  - 10.1103/physrevapplied.20.024056
UR  - https://arxiv.org/abs/2304.09120
ID  - 2304.09120
ER  -