TY  - RPRT
TI  - Modeling of Surface Damage at the Si/SiO$_2$-interface of Irradiated MOS-capacitors
AU  - N. Akchurin
AU  - G. Altopp
AU  - B. Burkle
AU  - W. D. Frey
AU  - U. Heintz
AU  - N. Hinton
AU  - M. Hoeferkamp
AU  - Y. Kazhykarim
AU  - V. Kuryatkov
AU  - T. Mengke
AU  - T. Peltola
AU  - S. Seidel
AU  - E. Spencer
AU  - M. Tripathi
AU  - J. Voelker
PY  - 2023
DO  - 10.1088/1748-0221/18/08/p08001
UR  - https://arxiv.org/abs/2305.14316
ID  - 2305.14316
ER  -