TY  - RPRT
TI  - Monitoring the evolution of dimensional accuracy and product properties in property-controlled forming processes
AU  - Sophie Charlotte Stebner
AU  - Juri Martschin
AU  - Bahman Arian
AU  - Stefan Dietrich
AU  - Martin Feistle
AU  - Sebastian Hütter
AU  - Rémi Lafarge
AU  - Robert Laue
AU  - Xinyang Li
AU  - Christopher Schulte
AU  - Daniel Spies
AU  - Ferdinand Thein
AU  - Frank Wendler
AU  - Malte Wrobel
AU  - Julian Rozo Vasquez
AU  - Michael Dölz
AU  - Sebastian Münstermann
PY  - 2023
UR  - https://arxiv.org/abs/2305.19601
ID  - 2305.19601
ER  -