TY  - RPRT
TI  - Quantum metrology in the finite-sample regime
AU  - Johannes Jakob Meyer
AU  - Sumeet Khatri
AU  - Daniel Stilck França
AU  - Jens Eisert
AU  - Philippe Faist
PY  - 2023
DO  - 10.1103/qbn1-p6bq
UR  - https://arxiv.org/abs/2307.06370
ID  - 2307.06370
ER  -