TY  - RPRT
TI  - Effect of Grain Coalescence on Dislocation and Stress Evolution of GaN Films Grown on Nanoscale Patterned Sapphire Substrates
AU  - Zuojian Pan
AU  - Zhizhong Chen
AU  - Yiyong Chen
AU  - Haodong Zhang
AU  - Han Yang
AU  - Jingxin Nie
AU  - Chuhan Deng
AU  - Boyan Dong
AU  - Daqi Wang
AU  - Yuchen Li
AU  - Weihua Chen
AU  - Fei Jiao
AU  - Xiangning Kang
AU  - Chuanyu Jia
AU  - Zhiwen Liang
AU  - Qi Wang
AU  - Guoyi Zhang
AU  - Bo Shen
PY  - 2023
DO  - 10.1039/d3ce00987d
UR  - https://arxiv.org/abs/2308.10919
ID  - 2308.10919
ER  -