TY  - RPRT
TI  - Variability and Reliability of Graphene Field-Effect Transistors with CaF2 Insulators
AU  - Yury Yu. Illarionov
AU  - Theresia Knobloch
AU  - Burkay Uzlu
AU  - Alexander G. Banshikov
AU  - Iliya A. Ivanov
AU  - Viktor Sverdlov
AU  - Mikhail I. Vexler
AU  - Michael Waltl
AU  - Zhenxing Wang
AU  - Bibhas Manna
AU  - Daniel Neumaier
AU  - Max C. Lemme
AU  - Nikolai S. Sokolov
AU  - Tibor Grasser
PY  - 2023
DO  - 10.1038/s41699-024-00461-0
UR  - https://arxiv.org/abs/2309.11233
ID  - 2309.11233
ER  -