TY  - RPRT
TI  - Crystallographic-dependent bilinear magnetoelectric resistance in a thin WTe$_2$ layer
AU  - Tian Liu
AU  - Arunesh Roy
AU  - Jan Hidding
AU  - Homayoun Jafari
AU  - Dennis K. de Wal
AU  - Jagoda Slawinska
AU  - Marcos H. D. Guimarães
AU  - Bart J. van Wees
PY  - 2023
UR  - https://arxiv.org/abs/2310.01058
ID  - 2310.01058
ER  -