TY  - RPRT
TI  - Impact of interface traps on charge noise, mobility and percolation density in Ge/SiGe heterostructures
AU  - L. Massai
AU  - B. Hetényi
AU  - M. Mergenthaler
AU  - F. J. Schupp
AU  - L. Sommer
AU  - S. Paredes
AU  - S. W. Bedell
AU  - P. Harvey-Collard
AU  - G. Salis
AU  - A. Fuhrer
AU  - N. W. Hendrickx
PY  - 2023
DO  - 10.1038/s43246-024-00563-8
UR  - https://arxiv.org/abs/2310.05902
ID  - 2310.05902
ER  -