TY  - RPRT
TI  - Unveiling microstructural damage for leakage current degradation in SiC Schottky diode after heavy ions irradiation under 200 V
AU  - Xiaoyu Yan
AU  - Pengfei Zhai
AU  - Chen Yang
AU  - Shiwei Zhao
AU  - Shuai Nan
AU  - Peipei Hu
AU  - Teng Zhang
AU  - Qiyu Chen
AU  - Lijun Xu
AU  - Zongzhen Li
AU  - Jie Liu
PY  - 2024
DO  - 10.1063/5.0216883
UR  - https://arxiv.org/abs/2310.17145
ID  - 2310.17145
ER  -