TY  - RPRT
TI  - Radiation Tolerance of SiGe BiCMOS Monolithic Silicon Pixel Detectors without Internal Gain Layer
AU  - M. Milanesio
AU  - L. Paolozzi
AU  - T. Moretti
AU  - R. Cardella
AU  - T. Kugathasan
AU  - F. Martinelli
AU  - A. Picardi
AU  - I. Semendyaev
AU  - S. Zambito
AU  - K. Nakamura
AU  - Y. Tabuko
AU  - M. Togawa
AU  - M. Elviretti
AU  - H. Rücker
AU  - F. Cadoux
AU  - R. Cardarelli
AU  - S. Débieux
AU  - Y. Favre
AU  - C. A. Fenoglio
AU  - D. Ferrere
AU  - S. Gonzalez-Sevilla
AU  - L. Iodice
AU  - R. Kotitsa
AU  - C. Magliocca
AU  - M. Nessi
AU  - A. Pizarro-Medina
AU  - J. Sabater Iglesias
AU  - J. Saidi
AU  - M. Vicente Barreto Pinto
AU  - G. Iacobucci
PY  - 2023
DO  - 10.1088/1748-0221/19/01/p01014
UR  - https://arxiv.org/abs/2310.19398
ID  - 2310.19398
ER  -