TY  - RPRT
TI  - Absence of metallicity and bias-dependent resistivity in low-carrier-density EuCd2As2
AU  - Yuxiang Wang
AU  - Jianwen Ma
AU  - Jian Yuan
AU  - Wenbin Wu
AU  - Yong Zhang
AU  - Yicheng Mou
AU  - Jiaming Gu
AU  - Peihong Cheng
AU  - Wu Shi
AU  - Xiang Yuan
AU  - Jinglei Zhang
AU  - Yanfeng Guo
AU  - Cheng Zhang
PY  - 2023
DO  - 10.1007/s11433-023-2283-0
UR  - https://arxiv.org/abs/2311.11515
ID  - 2311.11515
ER  -