TY  - RPRT
TI  - Quantifying the contribution of material and junction resistances in nano-networks
AU  - Cian Gabbett
AU  - Adam G. Kelly
AU  - Emmet Coleman
AU  - Luke Doolan
AU  - Tian Carey
AU  - Kevin Synnatschke
AU  - Shixin Liu
AU  - Anthony Dawson
AU  - Domhnall OSuilleabhain
AU  - Jose Munuera
AU  - Eoin Caffrey
AU  - John B. Boland
AU  - Zdenek Sofer
AU  - Goutam Ghosh
AU  - Sachin Kinge
AU  - Laurens D. A. Siebbeles
AU  - Neelam Yadav
AU  - Jagdish K. Vij
AU  - Muhammad Awais Aslam
AU  - Aleksandar Matkovic
AU  - Jonathan N. Coleman
PY  - 2023
UR  - https://arxiv.org/abs/2311.16740
ID  - 2311.16740
ER  -